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掃描電鏡中拉伸臺(tái)是常見(jiàn)的原位材料力學(xué)性能分析選配件（圖1），主要用于形變或斷裂微區(qū)分析，可以實(shí)時(shí)觀察到裂紋開(kāi)裂過(guò)程，對(duì)于材料斷裂機(jī)理研究非常有幫助。
飛納電鏡工程師在原位拉伸試驗(yàn)中進(jìn)行多次探索，做出非常多有意思的結(jié)果，幫助科研人員從微觀解讀和認(rèn)識(shí)材料的開(kāi)裂、失效機(jī)制，并進(jìn)一步對(duì)材料進(jìn)行提升。這些材料包括金屬、皮革、薄膜材料、橡膠等。（見(jiàn)“掃描電鏡中的原位拉伸臺(tái)應(yīng)用實(shí)例”一文）
在這些試驗(yàn)中，不僅可以記錄、拍攝樣品斷裂瞬間的形貌特征，還可以實(shí)時(shí)控制樣品在拉伸過(guò)程中的應(yīng)變量（ε）、應(yīng)變速度（?）、疲勞試驗(yàn)循環(huán)次數(shù)（N）等物理量，并通過(guò)力學(xué)傳感器實(shí)時(shí)讀取加載在樣品表面上的力，繪制應(yīng)力應(yīng)變曲線(xiàn)，從多個(gè)維度對(duì)樣品屬性進(jìn)行探究。
圖一：飛納電鏡拉伸臺(tái)
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